Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Okuno K., Takahashi Y., Isono T., Hamada K., Hemmi T., Yoshikawa M., Kawano K., Tsutsumi F., Nabara Y., Murakami Y., Ishibashi T., Oshikiri M., Uno Y., Tsuzuku S., Yamashita A., Teshima O.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, ITER, coils toroidal, fabrication, cable-in-conduit conductor, jacketing, design parameters, bronze process
Bruzzone P., Stepanov B., Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Takahashi Y., Isono T., Hamada K., Hemmi T., Yoshikawa M., Nabara Y., Kajitani H.
Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Takahashi Y., Isono T., Hemmi T., Nabara Y., Hamda K.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, central coils, coils insert, ITER, cable-in-conduit conductor, strands, electric field, voltage, modeling, facility
Bruzzone P., Stepanov B., Mitchell N., Breschi M., Jewell M.C., Kim K., Takahashi Y., Vostner A., Devred A., Boutboul T., Martovetsky N., Bessette D., Pong I., Yu W., Tronza V., Casali M.
Jewell M.C., Koizumi N., Nunoya Y., Nakajima H., Takahashi Y., Isono T., Hamada K., Libeyre P., Saito T., Kawano K., Devred A., Yano Y., Bessette D., Oshikiri M., Uno Y., Matsuda H.
Ключевые слова: ITER, central coils, fabrication, LTS, NbTi, cable-in-conduit conductor, jacketing, welding
Nakamura T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Takahashi Y., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakanishi T., Hironaga R., Aoki N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, ac losses, TFA-MOD process, laminations, IBAD process, substrate Hastelloy, fabrication, tensile tests, mechanical properties, critical current, homogeneity, critical current, current-voltage characteristics, experimental results, annealing process, length
Bruzzone P., Stepanov B., Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Takahashi Y., Isono T., Hemmi T., Yoshikawa M., Nabara Y.
Ключевые слова: ITER, coils toroidal, LTS, Nb3Sn, cable-in-conduit conductor, test results, SULTAN, voltage
Osamura K., Koizumi N., Nunoya Y., Matsui K., Nakajima H., Ito T., Takahashi Y., Suzuki H., Hemmi T., Oguro H., Harjo S., Machiya S., Tsuchiya Y., Aizawa K.
Izumi T., Shiohara Y., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M., Takahashi Y., Kato T., Miura M., Koida T., Minami J.
Yoshida Y., Izumi T., Shiohara Y., Takahashi Y., Takahashi Y., Kato T., Ichino Y., Takai Y., Yoshizumi M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, MOD process, texture, buffer layers, IBAD process, PLD process, fabrication, REBCO, critical current, critical current distribution, long conductors
Nagaya S., Kashima N., Watanabe T., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M., Takahashi Y., Shikimachi K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, MOD process, fabrication, patents
Nagaya S., Kashima N., Watanabe T., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M., Takahashi Y., Shikimachi K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, REBCO, pinning, nanoparticles, nanoscaled effects, coated conductors, TFA-MOD process, flux creep, flux flow, modeling, pinning centers artificial, critical caracteristics, Jc/B curves, angular dependence, current-voltage characteristics, n-value, experimental results
Ключевые слова: HTS, fabrication, patents, YBCO, substrate Ni, TFA-MOD process, coated conductors
Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Ito T., Takahashi Y., Hatakeyama H., Miyata S., Yoshizumi M.
Ключевые слова: presentation, HTS, coated conductors, roughness, IBAD process, buffer layers, texture, fabrication, substrate Hastelloy, planarization, MOD process, PLD process, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.